嘉锂智控

一、无闪现、输出电压低、带不起负载

此类不良首要排除电芯不良（电芯原本无电压或电压低），假设电芯不良则应检验保护板的自耗电，看是否是保护板自耗电过大导致电芯电压低。假设电芯电压正常，则是因为保护板整个回路不通（元器件虚焊、假焊、FUSE不良、PCB板内部电路不通、过孔不通、MOS、IC损坏等）。

具体分析过程如下：

（一）、用万用表黑表笔接电芯负极，红表笔依次接FUSE、R1电阻两端，IC的Vdd、Dout、Cout端，P+端（假定电芯电压为3.8V），逐段进行分析，此几个检验点都应为3.8V。若不是，则此段电路有问题。

1、FUSE两端电压有改动：检验FUSE是否导通，若导公例是PCB板内部电路不通；若不导公例FUSE有问题（来料不良、过流损坏（MOS或IC操控失效）、质料有问题（在MOS或IC动作之前FUSE被烧坏），然后用导线短接FUSE，持续往后分析。

2、R1电阻两端电压有改动：检验R1电阻值，若电阻值失常，则或许是虚焊，电阻自身开裂。若电阻值无失常，则或许是IC内部电阻出现问题。

3、IC检验端电压有改动：Vdd端与R1电阻相连。Dout、Cout端失常，则是因为IC虚焊或损坏。

4、若前面电压都无改动，检验B-到P+间的电压失常，则是因为保护板正极过孔不通。

（二）、万用表红表笔接电芯正极，激活MOS管后，黑表笔依次接MOS管2、3脚，6、7脚，P-端。

1.MOS管2、3脚，6、7脚电压有改动，则标明MOS管失常。

2.若MOS管电压无改动，P-端电压失常，则是因为保护板负极过孔不通。

二、短路无保护

1、VM端电阻出现问题：可用万用表一表笔接IC2脚，一表笔接与VM端电阻相连的MOS管管脚，供认其电阻值大小。看电阻与IC、MOS管脚有无虚焊。

2、IC、MOS失常：因为过放保护与过流、短路保护共用一个MOS管，若短路失常是因为MOS出现问题，则此板应无过放保护功用。

3、以上为正常情况下的不良，也或许出现IC与MOS装备不良引起的短路失常。如前期出现的BK-901，其型号为‘312D’的IC内延迟时间过长，导致在IC作出相应动作操控之前MOS或其它元器件已被损坏。注：其间供认IC或MOS是否发作失常最简易、直接的方法便是对有怀疑的元器件进行替换。

三、短路保护无自恢复

1、规划时所用IC原本没有自恢复功用，如G2J，G2Z等。

2、仪器设置短路恢复时间过短，或短路检验时未将负载移开，如用万用表电压档进行短路表笔短接后未将表笔从检验端移开（万用表相当于一个几兆的负载）。

3、P+、P-间漏电，如焊盘之间存在带杂质的松香，带杂质的黄胶或P+、P-间电容被击穿，ICVdd到Vss间被击穿。（阻值只有几K到几百K）。

4、假设以上都没问题，或许IC被击穿，可检验IC各管脚之间阻值。

四、内阻大

1、因为MOS内阻相对比较稳定，出现内阻大情况，首要怀疑的应该是FUSE或PTC这些内阻相对比较简单发作改动的元器件。

2、假设FUSE或PTC阻值正常，则视保护板结构检测P+、P-焊盘与元器件面之间的过孔阻值，或许过孔出现微断现象，阻值较大。

3、假设以上多没有问题，就要怀疑MOS是否出现失常：首要供认焊接有没有问题；其次看板的厚度（是否简单弯折），因为弯折时或许导致管脚焊接处失常；再将MOS管放到显微镜下观测是否破裂；终究用万用表检验MOS管脚阻值，看是否被击穿。

五、ID失常

1、ID电阻自身因为虚焊、开裂或因电阻质料不过关而出现失常：可从头焊接电阻两端，若重焊后ID正常则是电阻虚焊，若开裂则电阻会在重焊后从中裂开。

2、ID过孔不导通：可用万用表检验过孔两端。

3、内部线路出现问题：可刮开阻焊漆看内部电路有无断开、短路现象。